产品分类
您现在的位置:首页 > 产品展示 > 梅特勒实验室仪器 > 分析天平 > AB-S/FACT分析天平

分析天平

更新时间:2024-03-15

简要描述:

内置砝码校准保证了精密可靠的称量结果,天平用FACT进行自动校准。可节省使用外校砝码耗费的时间。温度变化可影响称量结果的精确性。当探测器检测到温度变化超过允许限制时,FACT会自动启动校准天平

    内置砝码校准保证了精密可靠的称量结果,天平用FACT进行自动校准。可节省使用外校砝码耗费的时间。温度变化可影响称量结果的精确性。当探测器检测到温度变化超过允许限制时,FACT会自动启动校准天平。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7