产品分类
您现在的位置:首页 > 产品展示 > > > 1NM 3938E771NM 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪

1NM 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪

产品时间:2018-06-01

简要描述:

产品详情

TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪(1nm-DMA)组件后,SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。。
以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组

打印当前页

发邮件给我们:enaid_tech@163.com

分享到:

特性和优势

 

高分辨率粒径分布

+ 64通道/10倍粒径

+ 1到50nm之间多于109通道

给您zui大灵活度的组件设计

1nm到50nm的极宽粒径范围

+和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um

三个数量级的粒径

将散逸损失降到zui低,系统高度整合

通过气溶胶仪器管理(AIM)软件进行系统操作

离散颗粒物测量:多模态样品测量效果*

 

应用

 

基础气溶胶研究

颗粒成核及生长研究

大气及气候研究

燃烧及发动机排放研究

过滤器及空气净化器测试

吸入或暴露舱研究

健康影响因素研究

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
客户至上 用心服务
在线客服
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站